Универсальная система рентгеновского контроля XCT-8500M
Производитель:
SEAMARK ZM
Страна:
Китай
Артикул:
-
По запросу
- Под заказ
Данная установка предназначены для проведения неразрушающего рентгеновского контроля с высоким разрешением в реальном времени, а также для автоматизированной рентгеновской инспекции.
- Компактные размеры, простота в настройке и управлении;
- Возможность осуществления проверки качества монтажа SMD компонентов, таких как, BGA / CSP/ QFN, кристаллических подложек, QFP/SOP, а также инспекции SMT и PTU модулей, различных датчиков и т.д.;
- Высокое разрешение, позволяющее получить изображения наилучшего качества за короткий промежуток времени;
- Режим работы с ЧПУ типа CNC для быстрой и автоматической инспекции большого количества исследуемых точек;
- Автоматическое инфракрасное наведение и функцию позиционирования, позволяющие быстро произвести выбор требуемого места съемки;
- Возможность проведения инспекции под различным углом к образцу для более качественного исследования его дефектов;
- Простое и интуитивно понятно программное обеспечение;
- Длительный срок службы.
Тип трубки: | Открытая микрофокусная трубка YXLON-COMET (Германия/Швейцария) |
Рабочий диапазон напряжения: | 25-160 кВ |
Рабочий диапазон тока: | 10-1000 мкА |
Макс. мощность на выходе: | 64 Вт |
Макс. мощность цели: | 10 Вт |
Размер микрофокусного пятна: | <1 мкм |
Тип детектора: | Плоско-панельный детектор на базе аморфного кремния |
Пиксельная матрица: | 1536×1536 |
Исследуемая область: | 130мм×130мм |
Разрешение: | 5.8 строк/мм |
Кадрирование 1х1: | 20 кадр/сек |
АЦ преобразователь: | 16 бит Параметры системы |
Макс. размер образца: | 750мм×750мм |
Макс. исследуемая область: | 550мм×550мм |
Режим наблюдения: | 360° с фиксированной точкой |
Геометрическое увеличение: | 2000x |
Электропотребление: | 220В, 10A, 50-60Гц |
Система управления: | Рабочая станция прецизионного отображения DELL Т7920 |
Габариты (Д х Ш х В), мм: | 1600х1700х2000 |
Масса: | Прибл. 2950 кг |
Опции: | ПО для 2D контроля пустот, ПО для 3D измерений и анализа |